CH-1千分台式硅片测厚仪
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名 称:
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千分台式硅片测厚仪
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分 度 值:
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0.001mm
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测量范围与准确度:
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0mm~1mm ≤0.005mm
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主要用途:
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用机械测量法测定硅片等硬质材料厚度
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执行标准:
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根据客户要求定做
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